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红外热像仪应用于半导体制冷片温度检测

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发表于 2017-6-21 12:20:50 | 显示全部楼层 |阅读模式
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红外热像仪应用在半导体制冷片中的温度检测原理介绍

半导体制冷片,也叫热电制冷片,是一种热泵。它的优点是没有滑动部件,应用在一些空间受到限制,可靠性要求高,无制冷剂污染的场合。利用半导体材料的Peltier效应,当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时,在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量,可以实现制冷的目的。它是一种产生负热阻的制冷技术,其特点是无运动部件,可靠性也比较高。


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红外热像仪应用前先了解下半导体制冷原理:

半导体制冷器件的工作原理是基于帕尔帖原理,当一块N型半导体材料和一块P型半导体材料联结成的热电偶对中有电流通过时,两端之间就会产生热量转移,热量就会从一端转移到另一端,从而产生温差形成冷热端。

但是半导体自身存在电阻当电流经过半导体时就会产生热量,从而会影响热传递。而且两个极板之间的热量也会通过空气和半导体材料自身进行逆向热传递。当冷热端达到一定温差,这两种热传递的量相等时,就会达到一个平衡点,正逆向热传递相互抵消。此时冷热端的温度就不会继续发生变化。为了达到更低的温度,可以采取散热等方式降低热端的温度来实现。

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为了更好导热,涂上的导热硅脂。

      Fluke红外热像仪应用检测案例解析:

          清华大学材料学院的老师,需要研究半导体制冷的过程和可以达到的温度。红外热像仪应用可以直观地看到温度的变化和分布情况。

      红外热像仪应用检测难点:

     1. 温度从室温到低温快速变化,温度变化前期3秒钟温度下降4.45℃;

     2. 温度低,对热像仪的稳定性提出更高要求;

     3. 材料小,结冰的冰渣直径在1mm以内。

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降温初期温度下降快:7s下降9.55


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温度趋于平稳,温度在1℃内浮动,此时开始出现冰霜,且冰霜逐渐变厚的过程。


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降温中期温度下降减慢:45s下降4.90

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降温后期温度下降缓慢:83s下降1.52℃,切温度趋于平稳

Fluke红外热像仪应用适用行业:

半导体研究领域;制冷研究;材料研究。

更多内容,欢迎登陆福禄克官网进一步了解:http://ticenter.fluke.com.cn/home.aspx?utm_campaign=TSC&utm_source=Guoshuang&utm_medium=SMO2017


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